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Ⅰ. 纠偏测量
测量薄膜和卷绕部件的边缘位置等设备(可用于锂电池卷绕机及其他透明薄膜生产设备纠偏)
独立开发透镜可达到4μm的精度和1μm的重复精度,多波段激光+I-DSP图像处理模式:图像更加清晰,同时可降低干扰项,实现了高速执行数据处理。
Ⅱ. 直径/内外径检测等
多种应用模式
※边缘控制模式
※外径检测模式
※内径/间隙检测模式
※透明目标的边缘检测
最 高水平的检测周期(280μs)
快盈IV高性能Cortex-M7核心超高速处理器结合独特演算方法,可高速处理大量信息。